sat分析 搜尋引擎推薦回答
超音波掃瞄(SAT 檢測) - iST宜特
SAT超音波可用來檢測晶片元件內部不同位置的脫層(Delamination)、裂縫(Crack)、氣洞及粘著狀況，多用於檢察IC封膠內的缺陷。超音波顯微鏡(SAT)，原理是藉由超音波於不同 ...
SAT檢測分析 - 德凱宜特DEKRA iST
SAT是利用超音波反射訊號來偵測異常點，故若表面粗糙或有氣泡存在，將會影響到結果的半段，故下圖這幾種組件較不適合利用SAT進行分析。
其它人也問了
熱門搜尋網頁
免責聲明
本網站所有資料僅供參考，如使用者依本資料交易發生交易損失需自行負責，本網站對資料內容錯誤﹑更新延誤不負任何責任。