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掃描穿透式電子顯微鏡- 維基百科

掃描穿透式電子顯微鏡（英語：Scanning transmission electron microscope；縮寫為STEM）是利用電磁透鏡把電子束會聚成非常小的束斑在薄樣品上進行逐點掃描，並利用探測器收集 ...

SEM - 掃描電子顯微鏡

掃描電子顯微鏡一種使用電子束掃描樣本表面的電子顯微鏡。這類系統不僅能拍攝大景深、高解析度影像，而且可以實現極高的放大率。SEM可搭載元素分析儀，用於確定目標物的化學 ...

掃描式電子顯微鏡(SEM) - iST宜特

掃描式電子顯微鏡（SEM）為利用微小聚焦的電子束進行樣品表面掃描。此電子束與樣品間的交互作用會激發出各種訊號，如: 二次電子、背向散射電子及特性X光，SEM即是收集二次 ...

掃描式電子顯微鏡：電子信號種類與其提供的資訊 - 勀傑科技

如其名，電子顯微鏡是以電子束成像，如圖(一)所示，電子與樣品間有許多不同的交互作用，並產生許多不同種類的信號放射，且每種信號(也可稱訊號)都可以提供樣品 ...

高解析掃描式電子顯微鏡／High Resolution Scanning Electron ...

本儀器提供高解析度影像、微區化學組成分析、多功能解析、試片製備容易等優點，適用於材料、半導體、光電、太陽能電池、奈米材料、機械、物理、冶金等領域，其應用非常廣泛， ...

掃瞄式電子顯微鏡(SEM)

為探討奈米尺度物體之微觀世界，電子顯微鏡技術不斷改進，. 以滿足人類對物體之奈米世界的渴望。本文將針對掃瞄式電子顯. 微鏡(SEM) 之原理與應用做一廣泛之介紹。科學 ...

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