tdr測試 搜尋引擎推薦回答

現今 TDR 已經成為一種重要的分析技術應用於 IC 封裝的故障定位,此種技術可以搭配其它的分析技術,如超音波掃瞄顯微術 (Scanning Acoustic Tomography, SAT) 及 X 光顯微術 (X-ray microscopy),進行更精確的故障定位分析。

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