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以蒙地卡羅法探討散射模式對反射電子之影響

本論文利用蒙地卡羅法完成反射電子能量損失能譜以及彈性峰電子能譜之計算。為了獲得正確的結果，我們的模擬包含了較為完整的電子與物質交互作用模式。

反射電子能量損失分布之研究 - 國立陽明交通大學機構典藏

結果顯示大部份的彈性反射電子只經過少數幾次散射,同時大約一半是僅經過一次散射. 因此,多次散射模式或一次散射模式,都不足以描述反射電子的角度分布. 為了改良這些 ...

RF解密—瞭解波反射- 電子技術設計

本文針對非RF工程師簡單介紹了與RF設計固有關鍵特性相關的術語：「波反射」(wave reflections)。問題：「波反射」(wave reflections)——為何在RF設計中 ...

熱場發射掃描式電子顯微鏡 - 中央大學地球科學學系

本顯微鏡同時配置有反射電子偵測器（Semiconductor Backcattered Electron Dectector）可提供分析樣本之成分（composition）與表面高程(Topography)影像。另外並有微區元素能量 ...

穿透式電子顯微鏡- 維基百科

穿透式電子顯微鏡（英語：Transmission electron microscope，縮寫：TEM、CTEM），簡稱透射電鏡，是把經加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而 ...

SEM掃描式電子顯微鏡：電子信號種類與應用 - 英商飛奈儀器

掃描式電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）是一種高解析度的電子顯微鏡，使用高能電子束來掃描樣品表面，透過偵測器接收電子信號，進而轉換生成 ...

熱場發射掃描式電子顯微鏡(TFSEM)

電子束照射試片表面後，亦會激發反射電子（也叫背向散射電子）。試片中平均原子序越. 高的區域，釋放出來的反射電子越多，因此利用反射電子影像來觀察表面平滑無明顯特.

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